TanEV CDT

TanEV CDT Conductive Deposit Test.

Aparat zgodny z normą ASTM D8544-24: Standard Test Method for Determination of Conductive Deposits of Electrical and Mechanical Components from Fluids in Liquid and Vapor States within an Electrically Charged System

Aparat został zaprojektowany w celu określenia tendencji płynów smarowych do tworzenia się osadów przewodzących na odsłoniętych miedzianych uzwojeniach silników, złączach i elementach elektrycznych w podwyższonych temperaturach w napędzie pojazdów elektrycznych (EV). Specjalnie zmodyfikowana płytka obwodu (PCB) jest zanurzana w 20 ml płynu testowego w temperaturze 150°C przez około 500 godzin i jest zasilana sygnałem DC o napięciu 5V. Opór, wyrażony w Ohmach, jest mierzony na dwóch pętlach napięciowych na PCB przez cały czas trwania testu, zarówno w fazie ciekłej, jak i parowej. Test uznaje się za niezdany, jeśli powstałe osady na ścieżkach miedzianych płyt PCB są przewodzące.

• Test w temperaturze 150°C przez około 500 godzin
• Zastosowanie napięcia 5V DC do dwóch pętli napięciowych na płytce PCB
• Bada tworzenie osadów przewodzących w fazie ciekłej i parowej (próbka <20 ml)
• Modułowe jednostki testowe z 4-portową stacją dokującą
• Niezależnie kontrolowane jednostki testowe z bezprzewodowym zbieraniem danych na platformie IOS
• Niewielkie wymiary pozwalają na ustawienie na stole laboratoryjnym